https://kk.encyclopedia.kz/index.php?action=history&feed=atom&title=%D0%AD%D0%BB%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%BD%D0%BE%D0%B3%D1%80%D0%B0%D1%84%D0%B8%D1%8FЭлектронография - Түзету тарихы2026-04-18T19:18:36ZМына уикидегі бұл беттің түзету тарихыMediaWiki 1.23.3https://kk.encyclopedia.kz/index.php?title=%D0%AD%D0%BB%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%BD%D0%BE%D0%B3%D1%80%D0%B0%D1%84%D0%B8%D1%8F&diff=48703&oldid=prevModerator: 1 түзету2025-04-25T18:26:09Z<p>1 түзету</p>
<table class='diff diff-contentalign-left'>
<tr style='vertical-align: top;'>
<td colspan='1' style="background-color: white; color:black; text-align: center;">← Ескі түзетулер</td>
<td colspan='1' style="background-color: white; color:black; text-align: center;">18:26, 2025 ж. сәуірдің 25 кезіндегі түзету</td>
</tr><tr><td colspan='2' style='text-align: center;'><div class="mw-diff-empty">(айырмашылығы жоқ)</div>
</td></tr></table>Moderatorhttps://kk.encyclopedia.kz/index.php?title=%D0%AD%D0%BB%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%BD%D0%BE%D0%B3%D1%80%D0%B0%D1%84%D0%B8%D1%8F&diff=48702&oldid=prevGaiJinBot: {{Суретсіз мақала}} үлгісін үстедім2011-12-06T12:54:11Z<p>{{Суретсіз мақала}} үлгісін үстедім</p>
<p><b>Жаңа бет</b></p><div>'''Электронография''' (электрон және графия) – электрондар шоғының заттан шашырауы кезінде пайда болатын дифракциялық кескін (бейне) алуға және оны тіркеуге негізделген құрылымдық зерттеу тәсілі. Рентгенография мен нейтронографияға қарағанда Э-ның мынадай ерекшеліктері бар: 1) электрондар затпен әлдеқайда күшті әсерлеседі. Сондықтан олар қалыңд. 10–5 – 10–7 см-ге дейінгі сынама үлгілерден өтіп, дифракц. кескін береді. Молекулалардың құрылымын зерттеген кезде сынама үлгі ретінде төмен қысымдағы бу ағыны пайдаланылады; 2) ауыр атомдар арасында орналасқан жеңіл атомдардың координаттарын анықтай алады; 3) электрондар сәулесінің толқын ұзындығы өте қысқа болуы себепті өте майда әрі ұлпа нысандарды зерттей алады; 4) электрондар шоғының қарқындылығы жоғары болып келеді. Э-лық зерттеулер мынадай бағыттарда дамып келеді: 1) булардағы немесе газдардағы молекулалардың құрылысын анықтауға арналған молекулалық (газдық) Э.; 2) құ-рылымы белгісіз кристалдың атомдық құрылымын толық анықтау немесе зерттелген құрылымдарды толтыру мақсатында орындалатын құрылымдық Э.; 3) беттік қабаттардың Э-сы; 4) әр түрлі фазалардың өзара жанасуынан пайда болатын құрылымдық ерекшеліктерді (микрокристалдар пішіні, ауыспалы құрылымдар, т.б.) зерттейтін субмикроскоп. кристаллография. Газдық Э. көмегімен булану темп-расы 1500 – 2000С-қа дейінгі зат молекулаларының құрылысы зерттеледі. Ядроаралық қашықтық пен тербеліс амплитудасының орташа квадраттық ауытқуы 0,01 – 0,001Е-ге дейінгі дәлдікпен анықталады. Құрылымдық Э. элементар ұяның параметрлерін және кристалдың атомдық құрылымын анықтау үшін пайдаланылады. Беттік қабаттардың Э-сы технол. өңдеу кезінде пайда болатын беттік өзгерістерді, тотығуды, коррозияны, т.б. зерттейді. Субмикроскоп. кристаллография табиғатта аз кездесетін әрі майда (мыс., минералдың ұлпа бөлшектері) заттар, күйелер, әр түрлі абразивтер сияқты заттардың (өлшемдері 10Е-нен аспайтын) құрылымын анықтауда пайдаланылады.<br />
{{Суретсіз мақала}}<br />
[[Санат:Физика]]</div>GaiJinBot